Chame TESTER 高速LED檢測系統(tǒng)
Chame TESTER測試儀已重新設計，為符合測量及LED生產高速測試需求，整合了卓立漢光研發(fā)的SGM CCD攝譜儀及高速的Chame -3000系列LED電性分析儀，MEGA LED TESTER可用來測試所有LED相關之光學與電性參數(shù)。
在生產過程中快速測量LED參數(shù)對于儀器是項特別的挑戰(zhàn)，因為符合CIE的測量標準時，出光效率非常低；在這同時，確保生產設備可以有效益生產的運轉，高速的測量時間是必要的，多項的LED的光學與電性參數(shù)測試均涵蓋其中，不同封裝的LED適用范圍也必須由小的SMT設計以至于高功率的LED。
?、賁pectral radiant flux（W/nm）：光譜
?、赑eak wavelength（λp）：高波長
③Dominant wavelength（Hue；λd）：色域波長
?、蹸enter wavelength（λc）：中心波長
?、軪xcitation Purity（Chroma；%）：色純度
⑥Chromaticity Coordinates（x，y @1931）：色坐標
⑦C.C.T.（correlated color temperature）：色溫
?、郈.R.I.（color rendering index）：演色指數(shù)
SGM100確保了主要的測量參數(shù) 高度及再現(xiàn)性，如LED主波長及的色坐標等，在傳統(tǒng)高速的電性測量速度下，對SGM100測量速度要求加快許多。如圖所示，其清楚的描述客戶確實可以減少電子測量的時間，尤其是搭配LED分選機高速的測試需求。
新的可調式使用者接口組態(tài)與擴充的數(shù)組功能合并，以符合所有分BIN的要求。新的裝置特征系依據(jù)統(tǒng)計分析及整體性考慮，也是針對白光晶圓與Lamp LED分選設備，都搭配了專用探測模塊。
完整的測量配置（光強、光通量、色彩值、輻射模式的測量）
快速測量周期l<30mS
兼容CIE127-2007測量標準l，NIST 標準溯源
經(jīng)濟完備的CCD分光技術l 以及智能化色彩分析軟件
可以連接系統(tǒng)各選項的光強與光通量探頭l
優(yōu)化的質量保證l
Chame LED軟件，DLLs的驅動。l
光強n [cd]
光通量[LM]n
主波長，中心波長，波峰測量n
色坐標，色溫，演色指數(shù)n
空間輻射模式n
SGM100光學檢測系統(tǒng)是采用完備的CCD與光柵分光技術來測量LED的發(fā)光特性與參數(shù)。各種光學適配器都可以根據(jù)測量需要，可以搭配到SGM100的輸入端，定義成相應的光強或光通量等光學單位。
除了具吸引力的價格外，還有的儀器測量度。SGM100是按照精密儀器標準制造的，SGM100光柵攝譜儀及其配件在出廠前都按照NIST標準校正過，USB接口隨插即用。
SGM100 LED光學檢測系統(tǒng)升級與服務：
該產品的主要功能就是對LED光學特性及參數(shù)進行測量。憑借多年服務業(yè)界的經(jīng)驗以及強大的技術力量，對您未來成長的需求提供配套的升級服務。
實用簡單Chame ED光譜色度分析軟件：
軟件可以支持您使用基本的LED測量，函數(shù)分析，和相應檔處理；并支持各類多功能電表支持你所需要的LED電性分析，稍微懂得計算機的產線作業(yè)人員就能操作，保證你的生產質量。
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更新時間：2024-03-14
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