Flex One 顯微光致發(fā)光光譜儀

產(chǎn)品簡介：

    光致發(fā)光(photoluminescence) 即PL，是用紫外、可見或紅外輻射激發(fā)發(fā)光材料而產(chǎn)生的發(fā)光，在半導(dǎo)體材料的發(fā)光特性測量應(yīng)用中通常是用激光（波長如325nm、532nm、785nm 等）激發(fā)材料（如GaN、ZnO、GaAs 等）產(chǎn)生熒光，通過對其熒光光譜（即PL 譜）的測量，分析該材料的光學(xué)特性，如禁帶寬度等。光致發(fā)光可以提供有關(guān)材料的結(jié)構(gòu)、成分及環(huán)境原子排列的信息，是一種非破壞性的、高靈敏度的分析方法，因而在物理學(xué)、材料科學(xué)、化學(xué)及分子生物學(xué)等相關(guān)領(lǐng)域被廣泛應(yīng)用。傳統(tǒng)的顯微光致發(fā)光光譜儀都是采用標(biāo)準(zhǔn)的顯微鏡與熒光光譜儀的結(jié)合，但是傳統(tǒng)的顯微鏡在材料的PL 譜測量中，存在很大的局限性，比如無法靈活的選擇實(shí)驗(yàn)所需的激光器（特別對于UV 波段的激光器，沒有足夠適用的配件），無法方便的與超低溫制冷機(jī)配合使用，采用光纖作為光收集裝置時(shí)耦合效率太低等等問題，都是采用標(biāo)準(zhǔn)顯微鏡難以回避的問題。
    北京卓立漢光儀器有限公司結(jié)合了公司十余年熒光光譜儀和光譜系統(tǒng)的設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn)和普遍用戶的實(shí)際需求，推出了“Flex One( 微光）”系列顯微光致發(fā)光光譜儀，有效的解決了上述問題，是目前市場上 具性價(jià)比的的顯微PL 光譜測量的解決方案。

( 產(chǎn)品圖片僅供參考，以實(shí)際系統(tǒng)配置為準(zhǔn))
系統(tǒng)組成
● 激發(fā)光源部分：紫外-近紅外波段各種波長激光器
● 顯微光路部分：優(yōu)化設(shè)計(jì)的專用型顯微光路
● 光譜采集部分：影像校正光譜和高靈敏型科學(xué)級CCD或單點(diǎn)探測器和數(shù)據(jù)采集器
● 樣品臺支架部分：xyz三維可調(diào)樣品臺（手動或自動）、超低溫樣品臺

參數(shù)規(guī)格表：

 1. 光致發(fā)光(PL)光譜測量

 分別針對材料的正( 紅色) 和負(fù)( 綠色) 測試得到光致發(fā)光光譜曲線如下，GaN 的本征發(fā)光峰365nm 附近以及黃帶，InGaN 的發(fā)光峰475nm 附近。

2. 電致發(fā)光(EL)光譜測量

將材料的正負(fù)接到直流電源的正負(fù)，電壓加到2.5V 時(shí)可以有明顯的藍(lán)光發(fā)射，測量其電致發(fā)光光譜曲線如下（紅色），峰值在475nm 附近。

● 樣品提供：KingAbdullahUniversity ofScience and Technology提供的基于藍(lán)寶石襯底MOCVD 生長的 InGaNGaN 量子阱

● 測試條件：325nm激發(fā)，功率30mW

● 光譜范圍：340-700nm