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DSR300微納器件光譜響應(yīng)度測(cè)試系統(tǒng)是一款專用于低微材料光電測(cè)試的系統(tǒng)。其功能全面,提供多種重要參數(shù)測(cè)試。系統(tǒng)集成高精度光譜掃描,光電流掃描以及光響應(yīng)速率測(cè)試。40μm探測(cè)光斑,實(shí)現(xiàn)百微米級(jí)探測(cè)器的絕對(duì)光譜祥響應(yīng)度測(cè)量。超高穩(wěn)定性光源支持長(zhǎng)時(shí)間的連續(xù)測(cè)試,豐富的光源選擇以及多層光學(xué)光路設(shè)計(jì)可擴(kuò)展多路光源,例如超連續(xù)白光激光器,皮秒脈沖激光器,半導(dǎo)體激光器,鹵素?zé)簦療舻?,滿足不同探測(cè)器測(cè)試功能的要求,是微納器件研究的優(yōu)選。
DSR300微納器件光譜響應(yīng)度測(cè)試系統(tǒng)功能:
■ 光譜響應(yīng)度
■ 外量子效率
■ 單色光/變功率IV
■ 不同輻照度IT曲線(分辨率200ms)
■ 不同偏壓下的IT曲線
■ LBIC,Mapping
■ 線性度測(cè)試
■ 響應(yīng)速率測(cè)試
主要技術(shù)參數(shù):




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